XRF是X射线荧光光谱仪。 该方法是用于确定合金中元素组成的重要方法之一。 通过XRF方法，可以定量测量原子序数在9和92之间的所有元素。 但是，原子序数低于9的元素不能通过XRF方法测量。

主要元素氧化物，痕量元素和过渡元素用X射线荧光光谱法测量重量，稀土元素以ppm水平分析。

对于生产锡罐的公司，重要的是确定锡上涂锡的量。 在该测量过程中，通过X射线荧光光谱法（XRF）获得最准确的结果。

食品领域最常用的包装材料是锡制容器。 这些材料中锡的厚度通常在0,22和0,32 mm之间。 如果锡的表面涂有锡，则其中包含的食品不再与锡（即钢）接触。 锡涂层的有效性取决于几个因素。 例如，涂层的厚度，其均匀性，所涂覆的涂覆方法和待放置的食品的性质。 锡的厚度在经济和功能以及人类健康方面都很重要。

在先进的实验室中，通过XRF方法对锡罐中的所有表面进行锡涂层厚度测量。 这些测量基于当地和外国组织发布的标准。 这方面使用的标准是：

• TS 13718罐头

 

本标准规定了由钢制成的市售锡罐的特性和形式，电镀锡涂层，涂有合适的食品漆。