ზოგადად, რენტგენის ფლუორესცენციის სპექტრომეტრია (XRF) მეთოდი გამოიყენება გამოყენებული X- სხივების რაოდენობრივი და ხარისხობრივი შეფასებისათვის და ფოტონის საკითხების ურთიერთქმედების შედეგად გაჟღენთილი ფოტონები. ლაბორატორიებში ანალიზის ნიმუშისგან მიღებული X- რების ენერგია გამოითვლება XRF მოწყობილობის გამოყენებით და ეს სხივები განისაზღვრება და ელემენტთა რაოდენობა გამოითვლება. XRF მეთოდი, სწრაფი, მგრძნობიარე და მარტივი გამოყენება, რადგან ეს ფართოდ გამოიყენება მეთოდი სამეცნიერო და ტექნოლოგიური კვლევით. ამავდროულად, ეს მეთოდი არ საჭიროებს ბევრად შერჩევას და არ დაზიანდება ანალიზის მასალა.

XRF მეთოდი საშუალებას იძლევა მძიმე ლითონის კონცენტრაციების ნახევრად რაოდენობრივ ანალიზს პროცენტებში და ppm ნიმუშის ყველა ფორმით, როგორიცაა მყარი, წყალი, ნავთობი და ნავთობპროდუქტები, როგორიცაა მინერალები, ლითონები და პოლიმერები და ნებისმიერი სახის თხელი კინო და დაპრესილი ფხვნილი. თუ შესაბამისი სტანდარტული მასალა გამოიყენება, სრული რაოდენობრივი ანალიზი შესრულებულია ზუსტად ppm- დან პროცენტამდე.

რაოდენობრივი ანალიზი (რაოდენობრივი ანალიზი) ანალიზური ქიმიის ანალიზის მეთოდი წარმოადგენს არა მხოლოდ იმას, თუ რა ელემენტები შეიცავს ნივთიერებას, მაგრამ რამდენი ელემენტია ამ ნივთიერებაში. ასე რომ შედეგები რიცხვითი. ნახევრად რაოდენობრივი ანალიზით შედეგები გამოხატულია ნივთიერების სავარაუდო რაოდენობით, როგორიცაა კვალი თანხის ან შუალედური თანხა. ზოგიერთი შედეგი მოცემულია უჯრედების რაოდენობის მიხედვით მიკროსკოპულ სფეროში.

არა-პარამეტრული ანალიზის მეთოდებში, ნახევრად რაოდენობრივი მნიშვნელობები გამოყენებულია გაზომვის ფაქტობრივი ღირებულებების ნაცვლად. ეს მეთოდი ზოგადად გამოიყენება მაშინ, როცა არ არის ბევრი ინფორმაცია დაკითხვის მდგომარეობის შესახებ.

წინასწარი ლაბორატორიების შეფუთვის ანალიზის ფარგლებში ჩატარდება კვლევები XRF მეთოდით შეფუთვის მასალების და შეფუთვის მასალების ნახევრად რაოდენობრივი ელემენტების განსაზღვრისათვის. ეს ანალიზი ეფუძნება ეროვნულ და საერთაშორისო ორგანიზაციებს გამოქვეყნებული სტანდარტებისა და ტესტირების მეთოდებს.