ήμισυ ποσοτικός Στοιχείο προσδιορισμός (XRF)

Προσδιορισμός ημιποσοτικού στοιχείου (XRF)
Προσδιορισμός ημιποσοτικού στοιχείου (XRF)

Γενικά, η μέθοδος φασματομετρίας φθορισμού ακτίνων Χ (XRF) χρησιμοποιείται για την ποσοτική και ποιοτική αξιολόγηση των χαρακτηριστικών ακτίνων Χ και των φωτονίων διασκορπισμού που προκύπτουν από την αλληλεπίδραση των υλικών φωτονίων. Στα εργαστήρια, η ενέργεια των ακτίνων Χ που λαμβάνονται από το αναλυθέν δείγμα υπολογίζεται με τη χρήση συσκευής XRF και προσδιορίζονται αυτές οι ακτίνες και υπολογίζονται οι ποσότητες στοιχείων. XRF, γρήγορη, ευαίσθητη και εύκολη στην εφαρμογή, επειδή είναι μια ευρέως χρησιμοποιούμενη μέθοδος στην επιστημονική και τεχνολογική έρευνα. Ταυτόχρονα, αυτή η μέθοδος δεν απαιτεί μεγάλη δειγματοληψία και δεν βλάπτει το υλικό που αναλύεται.

Η μέθοδος XRF επιτρέπει την ημιποσοτική ανάλυση των συγκεντρώσεων βαρέων μετάλλων σε εκατοστιαία ποσοστά και σε ppm σε όλες τις μορφές του δείγματος, όπως στερεά, νερό, πετρέλαιο και πετρελαϊκά προϊόντα όπως μέταλλα, μέταλλα και πολυμερή και οποιαδήποτε μορφή λεπτού υμενίου και πρέσας. Εάν χρησιμοποιούνται τα κατάλληλα πρότυπα υλικά, πραγματοποιούνται πλήρεις ποσοτικές αναλύσεις με ακρίβεια από ppm σε ποσοστό.

Η ποσοτική ανάλυση (ποσοτική ανάλυση) είναι μια μέθοδος ανάλυσης που χρησιμοποιείται στην αναλυτική χημεία για τον προσδιορισμό όχι μόνο ποια στοιχεία περιέχονται σε μια ουσία, αλλά πόσα στοιχεία υπάρχουν στην ουσία αυτή. Έτσι τα αποτελέσματα είναι αριθμητικά. Σε ημι-ποσοτικές αναλύσεις, τα αποτελέσματα εκφράζονται ως η κατά προσέγγιση ποσότητα της μετρούμενης ουσίας, όπως η ποσότητα ιχνών ή η ενδιάμεση ποσότητα. Ορισμένα αποτελέσματα δίδονται ως ο αριθμός των κυττάρων ανά μικροσκοπικό πεδίο.

Σε μη παραμετρικές μεθόδους ανάλυσης, χρησιμοποιούνται ημι-ποσοτικές τιμές αντί των πραγματικών τιμών των μετρήσεων. Αυτή η μέθοδος χρησιμοποιείται γενικά όταν δεν υπάρχουν πολλές πληροφορίες σχετικά με την υπό αμφισβήτηση κατάσταση.

Στο πλαίσιο της ανάλυσης των συσκευασιών σε προηγμένα εργαστήρια, διεξάγονται μελέτες για τον προσδιορισμό των ημι-ποσοτικών στοιχείων των υλικών συσκευασίας και των υλικών συσκευασίας με τη μέθοδο XRF. Οι αναλύσεις αυτές βασίζονται σε πρότυπα και μεθόδους δοκιμών που δημοσιεύονται από εθνικούς και διεθνείς οργανισμούς.